對于分析工作者,要懂得儀器的日常維護和對主要技術指標的簡易測試方法,要經(jīng)常對儀器各項性能指標逐項進行檢查、校正 ,進行維護和測試,以保證儀器工作在最佳狀態(tài)。下面介紹紫外可見分光光度計的主要性能指標及其測試方法。

   波長校正：由于波長誤差可以使定量分析造成誤差,可以使定性分析或結(jié)構分析判斷錯誤,以致于得出錯誤結(jié)論,所以,在儀器安裝完畢后要進行波長檢查 ,在使用一般時間后也要進行檢查和校正,保證儀器的最大靈敏度。波長的測試有粗測和細測,粗測方法是調(diào)儀器波長旋紐至580nm處,打開遮光板,在比色槽中光路經(jīng)過處放一白紙條,觀察是否有均勻的黃光。細測方法常用譜釹濾光片校正法,可用鐠釹濾光片在529nm±1～2nm處有較好的吸收峰。在校正時,將儀器按要求預熱,波長度盤置580nm處,T%調(diào)至最大,在比色杯處放一白紙條,觀察是否有光強均勻、邊緣無光暈或雜光的光斑,如不符合要求,可調(diào)節(jié)燈泡位置使其符合要求,是為波長校正的粗調(diào)。再把 靈敏度置于“1”(最低檔), 波長度盤對準529nm,電表機械零點為零,在光路空白時調(diào)T%為100% T,并反復查零點和100%T穩(wěn)定情況。將譜釹濾光片插入光路,慢慢旋轉(zhuǎn)波長度盤,找到透光率最

低的一點,這一點即為波長529nm。檢查波長度盤的指示值是不是529nm ,超出規(guī)定(±1nm)必須進行調(diào)整。

   雜散光檢查：雜散光是由于光學元件制造誤差以及光學和機械零件表面的漫反射形成的。在吸光度測定中,雜散光是分析樣品的非吸收光,隨著樣品濃度的增加,雜散光的影響也隨之增大 ,將給分析結(jié)果帶來一定的誤差。因此,雜散光的大小也是儀器性能的一項重要指標。雜光的來源有:

   1、儀器本身的原因 ,如單色器的設計、光源的光譜分布、光學原件的老化程度、波帶寬度以及儀器內(nèi)部的反射及散射等；

   2、室內(nèi)光線過強而漏入儀器,儀器暗室蓋不嚴；

   3、樣品本身的原因,如樣品有無熒光、樣品的散射能力強弱等。

   鐠釹濾光片在 585nm處吸光度A最大,透光率T最小,所產(chǎn)生的透光與雜光成正比,因此可用其透光率表示雜光的大小。先用譜釹濾片校正波長,然后用黑紙片擋住比色杯光路之后調(diào)整0%T,再用空氣做空白調(diào)100%T。插入譜釹濾光片,在585nm處測定,其測定值為雜光水平。